Колєнов С. О.

Колєнов
Сергій
Олександрович

ksa@univ.kiev.ua

Акаунт (профіль) в науковометричних базах даних:
ORCID: 0000-0001-5408-1983
Scopus

Лабораторія акустооптики

Закінчив у 1998 році Київський національний університет імені Тараса Шевченка, радіофізичний факультет, у 2001 – аспірантуруру університету. Працює в КНУ з 2001 року на посадах: інженер, мол. наук. співроб, 2004 – асист., 2011 – доцент каф. квантової радіофізики. Захистив у 2003 р. канд. дисертацію “Аналіз викривлень хвильового фронту лазерним диференційно-фазовим методом” (наук. кер. – проф. В.В. Данилов).

Основні напрями наукової роботи: акустооптика, оптика, лазерна скануюча мікроскопія, цифрова обробка інформації, проектування радіоелектронних пристроїв, цифровий зв’язок. Вільно володіє ПЕОМ, багатьма мовами програмування та САПР електронної техніки. Брав участь у розробці лазерних скануючих мікроскопів з акустооптичною розгорткою, лазерних систем персоналізації, лазерних проекційних систем та пристроїв лазерного гравіювання. Працював над питаннями застосування лазерних диференційно-фазових скануючих мікроскопів для дослідження та визначення параметрів широкого класу об’єктів в таких галузях як офтальмологія, машинобудівна промисловість та напівпровідникова електроніка.

Автор понад 80 публікацій, серед яких 5 патентів на винаходи.
Посададоцент
КафедраКафедра квантової радіофізики
Науковий ступінь (ступінь, спеціальність)кандидат фізико-математичних наук
Вчене званняДоцент
ПублікаціїОсновні праці:
1. International PCT Patent # PCT/US02/41853, Publication # WO 03/057008, 17.07.2003 “Device for measuring the aberation refraction of the eye” (у співавт.);
2. International PCT Patent # PCT/UA2015/000123, Publication # WO/2016/108805, 07.07.2016 “Method for defining the parameters of an object, and device for carrying out said method (variants)” (у співавт.);
3. Анализ дисперсионных характеристик фононных структур // ЖЭТФ, 2011, Том 139, №5 (у співавт.);
4. Reduction of friction and wear by grooves applied on the nanoscale polished surface in boundary lubrication conditions // Nanoscale Research Letters, 2014, 9:226 (у співавт.);
5. Comparison of obtain of phase photo-response images in case of scanning of semiconductor heterostructures in p-n junction perpendicular plane // Radioelectronics and Communications Systems, 2015, Vol. 58, № 4;
6. Light scattering by rough surface of quartz covered with the layer of sodium hypochlorite aqueous solution // Chapter 3, In book: Interaction of physical fields with nanostructured materials. Jülich : Forschungszentrum Jülich GmbH Zentralbibliothek, Verlag, Schriften des Forschungszentrums Jülich Reihe Schlüsseltechnologien / Key Technologies 211. – 2020, pp. 119-170. (Монографія, у співавт.);
7. Technique of light-assisted polishing of quartz surface covered with sodium hypochlorite solution: electrodynamical analysis // Journal of Modern Optics. Vol. 67 (7), 2020, pp. 647-653 (у співавт.).
Проекти
Конференції