|
Колєнов Сергій Олександрович serhii.kolienov@knu.ua Акаунт (профіль) в наукометричних базах даних: Google Scholar ORCID: 0000-0001-5408-1983 Scopus Наукова група: Лабораторія акустооптики Закінчив у 1998 році Київський національний університет імені Тараса Шевченка, радіофізичний факультет, у 2001 – аспірантуруру університету. Працює в КНУ з 2001 року на посадах: інженер, мол. наук. співроб, 2004 – асист., 2011 – доцент каф. квантової радіофізики. Захистив у 2003 р. канд. дисертацію “Аналіз викривлень хвильового фронту лазерним диференційно-фазовим методом” (наук. кер. – проф. В.В. Данилов). Основні напрями наукової роботи: акустооптика, оптика, лазерна скануюча мікроскопія та профілометрія, шорсткість поверхні, цифрова обробка даних, мікропроцесорна техніка, проектування радіоелектронних пристроїв з використанням мікроконтролерів та програмованих логічних інтегральних схем. Вільно володіє ПЕОМ, багатьма мовами програмування та САПР електронної техніки. Брав участь у розробці лазерних скануючих мікроскопів з акустооптичною розгорткою, лазерних систем персоналізації, лазерних проекційних систем та пристроїв лазерного гравіювання. Працював над питаннями застосування лазерних диференційно-фазових скануючих мікроскопів для дослідження та визначення параметрів широкого класу об’єктів в таких галузях як офтальмологія, машинобудівна промисловість та напівпровідникова електроніка. Автор понад 80 публікацій, серед яких 5 патентів на винаходи. |
| Посада | доцент |
| Кафедра | Кафедра квантової радіофізики |
| Науковий ступінь (ступінь, спеціальність) | кандидат фізико-математичних наук |
| Вчене звання | Доцент |
| Публікації | Основні праці: 1. International PCT Patent # PCT/US02/41853, Publication # WO 03/057008, 17.07.2003 “Device for measuring the aberation refraction of the eye” (у співавт.); 2. International PCT Patent # PCT/UA2015/000123, Publication # WO/2016/108805, 07.07.2016 “Method for defining the parameters of an object, and device for carrying out said method (variants)” (у співавт.); 3. Анализ дисперсионных характеристик фононных структур // ЖЭТФ, 2011, Том 139, №5 (у співавт.); 4. Reduction of friction and wear by grooves applied on the nanoscale polished surface in boundary lubrication conditions // Nanoscale Research Letters, 2014, 9:226 (у співавт.); 5. Comparison of obtain of phase photo-response images in case of scanning of semiconductor heterostructures in p-n junction perpendicular plane // Radioelectronics and Communications Systems, 2015, Vol. 58, № 4; 6. Light scattering by rough surface of quartz covered with the layer of sodium hypochlorite aqueous solution // Chapter 3, In book: Interaction of physical fields with nanostructured materials. Jülich : Forschungszentrum Jülich GmbH Zentralbibliothek, Verlag, Schriften des Forschungszentrums Jülich Reihe Schlüsseltechnologien / Key Technologies 211. – 2020, pp. 119-170. (Монографія, у співавт.); 7. Technique of light-assisted polishing of quartz surface covered with sodium hypochlorite solution: electrodynamical analysis // Journal of Modern Optics. Vol. 67 (7), 2020, pp. 647-653 (у співавт.); 8. Profile evolution during photochemical nano-polishing of a rough quartz surface under direct illumination // Applied Optics, Vol. 61 (17), 2022, pp. 5128-5135 (у співавт.); 9. Enhanced technique for photochemical nano-polishing of a rough quartz surface: the numerical calculation of profile evolution // Applied Optics, Vol. 62 (8), 2023, pp. 2109-2116 (у співавт.). |
| Проекти | |
| Конференції |